EMI測(cè)試是EMC測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，也是任何電子產(chǎn)品上市之前所必要的步驟，其設(shè)計(jì)貫穿整個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)流程，要求在設(shè)計(jì)之初便需要對(duì)其進(jìn)行考慮。但是傳統(tǒng)的EMI測(cè)試往往需要專業(yè)的頻譜儀或者信號(hào)分析儀，并且受制與分析帶寬，往往不能很快速的捕獲異常頻段。泰克MSO4-5-6基于數(shù)字下變頻技術(shù)的頻譜視圖，使其擁有超高的捕獲帶寬，以及超快的解析速率，能夠使得工程師能夠更快速的定位問(wèn)題所在，加速測(cè)試流程。

客戶需要測(cè)以太網(wǎng)模塊的插入損耗，反射損耗，通道間干擾，推薦了配網(wǎng)絡(luò)分析儀還需向客戶配置什么樣的夾具來(lái)形成完整的解決方案呢?

N6705B直流電源分析儀 快速測(cè)試手機(jī)三件套(包含N6705B、N678XA、14585A)十萬(wàn)出頭的解決方案，能夠充分解決便攜設(shè)備、芯片等能耗測(cè)量問(wèn)題，更能夠?qū)﹄姵氐娜萘考皟?nèi)阻進(jìn)行分析，充分提高便攜設(shè)備的待機(jī)時(shí)間等性能。蘋(píng)果等便攜設(shè)備、騰訊等軟件提供商均有應(yīng)用。

垂直腔面發(fā)射激光器(VCSEL)是成像、傳感技術(shù)和數(shù)據(jù)通信的關(guān)鍵部件。VCSEL的優(yōu)勢(shì)之一是能夠在制造過(guò)程的早期階段進(jìn)行晶片級(jí)別的測(cè)試，相比之下，對(duì)其他邊緣發(fā)射半導(dǎo)體激光器的測(cè)試通常在制造周期結(jié)束時(shí)進(jìn)行，此時(shí)產(chǎn)品已達(dá)到生產(chǎn)的最后階段。這種測(cè)試方法允許及早檢測(cè)組件故障，通過(guò)在封裝之前識(shí)別有缺陷的設(shè)備，大大節(jié)省了時(shí)間和成本。