TLS-1000 LIV 測(cè)試方案

發(fā)布時(shí)間：2024-06-26瀏覽量：1

系統(tǒng)背景

隨著光電子技術(shù)和信息技術(shù)的發(fā)展，半導(dǎo)體激光器(LD)在光纖通信，信息存儲(chǔ)、光傳輸?shù)阮I(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，作為系統(tǒng)的光源，LD 特性的優(yōu)劣直接影響著系統(tǒng)的性能。半導(dǎo)體發(fā)光器件LIV 光譜特性，需要精確地測(cè)試得到半導(dǎo)體激光器的LIV 特性曲線和光譜相關(guān)參數(shù)。

LS-VCS-SCI-LIV 科研用 LIV 光譜功率積分系統(tǒng)LIV 測(cè)試方案® 可以為客戶提供LD/LED 光電特性檢測(cè)定制化解決方案，實(shí)現(xiàn)對(duì)LD/LED 單體、模組、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量等。

系統(tǒng)介紹

LS-VCS-SCI-LIV 精密溫控型多功能光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)由泰克與合作單位專門針對(duì)基于脈沖LD/LED 測(cè)試研發(fā)而成，該系統(tǒng)可用于對(duì)LD/LED 光電特性檢測(cè)，以保證LD/LED 脈沖激光輻射光譜滿足器件光學(xué)功能和人眼安全應(yīng)用需求。

LS-VCS-SCI-LIV 精密密溫控型多功能光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)主要針對(duì)LD/LED 的芯片和模組的光電特性測(cè)量，根據(jù)/LD/LED 的發(fā)散角和輸出功率測(cè)量要求，可選擇不同規(guī)格的積分球，積分球內(nèi)徑尺寸分為：2 寸、4 寸、6 寸。積分球帶已標(biāo)定功率探頭，由于LD/LED發(fā)熱量大，溫度對(duì)LD/LED 輸出功率和輸出光譜波長(zhǎng)有很大的影響，因此需要對(duì)樣品控溫，配置溫度控制模塊，控溫范圍-50℃ ~+225℃可選。

方案特點(diǎn)

光譜峰值波長(zhǎng)和半高全寬（FWHM）測(cè)量：400-1100nm，F(xiàn)WHM:0.1nm，最快可實(shí)現(xiàn)2kHz 數(shù)據(jù)采集
激光功率測(cè)量，最快可實(shí)現(xiàn)每秒100k 采樣點(diǎn)
強(qiáng)大的分析專用軟件可以掃描測(cè)量LIV 曲線，PCE曲線，溫度- 峰值波長(zhǎng)- 光功率曲線
可設(shè)置掃描精度和速度，可測(cè)量光電轉(zhuǎn)換效率，自動(dòng)保存測(cè)試數(shù)據(jù)
采用四線測(cè)量方法，實(shí)時(shí)記錄實(shí)測(cè)電流、電壓值，功率值，測(cè)試更準(zhǔn)確
程序可設(shè)置連續(xù)及脈沖掃描兩種模式
壽命老化檢測(cè)功能：在恒定或脈沖條件下（電流、溫度），每隔指定時(shí)間間隔測(cè)試記錄一次光譜和功率數(shù)據(jù)