光耦繼電器是用半導體器件代替?zhèn)鹘y(tǒng)電接點作為切換裝置的具有繼電器特性的無觸點開關器件，廣泛應用于計算機外圍接口裝置、數(shù)控機械、遙控系統(tǒng)、工業(yè)自動化器械、精密儀表等產(chǎn)品中。在進行光耦繼電器測試實驗時， 過流是造成其內(nèi)部輸出可控硅永久性損壞的主要原因。許多負載在接通瞬間會產(chǎn)生很大的浪涌電流， 因此在實驗時保證一定的電流余量是極其重要的。

測試項目

點亮測試、老化測試、供電測試

推薦測試儀器

• IT-M3900C系列 雙向可編程直流電源
• IT8400系列 高性能直流電子負載